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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-橢偏儀系列-光譜橢偏儀-SE-VE光譜橢偏儀
簡要描述：國產(chǎn)橢偏儀,SE-VE光譜橢偏儀是一款高性價比快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成化設計，操作簡便，一鍵快速測量和向導交互式人機界面，具有豐富的材料數(shù)據(jù)庫和算法模型庫、強大的數(shù)據(jù)分析能力。
產(chǎn)品型號： 更新時間：2025-02-08 瀏覽次數(shù)：4959
廠家實力
Manufacturer Strength
有效保修
Valid Warranty
質量保障
Quality Assurance產(chǎn)品中心
PRODUCT CATEGORY
詳細介紹
一、概述
SE-VE 是一款高性價比、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。
■ 高性價比光學橢偏測量解決方案；
■ 緊湊集成化設計，較高用戶操作體驗；
■ 一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷；
■ 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結構模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力。
二、產(chǎn)品特點
■ 采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm)；
■ 高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；
■ 數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料。
三、產(chǎn)品應用
SE-VE光譜橢偏儀廣泛應用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數(shù)等快速表征分析。
可選配件
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| 溫控臺 | 真空泵 | 透射吸附組件 |
技術參數(shù)
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